在材料科學和納米技術領域，精確制備高質量的透射電子顯微鏡（TEM）和掃描透射電子顯微鏡（STEM）樣品是實現原子級分辨率成像和分析的關鍵。Technoorg Linda 公司生產的 Gentle Mill 離子精修儀以低能量離子束技術，為科研人員提供了一種高效、清潔的樣品精修解決方案，廣泛應用于各種材料的微觀結構和性能研究。本文精選了 11 篇使用 Gentle Mill 離子精修儀發表的文獻期刊（排名不分先后），展示了該設備在材料科學領域的廣泛應用和顯著成就。
01. 鈣釕氧化物超薄膜中異常尺寸效應的增強
關鍵詞：超常尺寸效應，超薄膜，CaRuO3
發表文章：Enhancement of Extraordinary Size Effect on CaRuO3 Ultrathin Films
發表期刊：ADVANCED ELECTRONIC MATERIALS
使用儀器型號：Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀
研究人員利用 Gentle Mill 離子精修儀制備了超薄、清潔的鈣釕化物樣品，并通過原子分辨率的 STEM 觀察，深入探究了其異常尺寸效應的增強現象。該研究借助 Gentle Mill 的低能量 Ar 離子束（0.3–1 keV）對樣品進行精修，成功去除了樣品表面的損傷層，為后續的高分辨率成像提供了高質量的樣品。
02. 通過 STEM 進行 InGaN 的成分 mapping 分析
關鍵詞：定量 STEM 分析，成分確定，多層切片模擬，冷凍晶格模擬
發表文章：Composition mapping in InGaN by scanning transmission electron microscopy
發表期刊：Ultramicroscopy
使用儀器型號：Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀
研究人員使用 Gentle Mill 離子精修儀制備了清潔的 InGaN 樣品，并通過原子分辨率觀察，探索了一種使用定量 STEM 成像進行 In 濃度 mapping 分析的方法。Gentle Mill 在該研究中用于去除樣品表面的損傷區域，確保了樣品的高質量和分析結果的可靠性。
03. 銦摻雜氧化鋅反轉疇內金屬亞晶格位移場測量
關鍵詞：球差校正電鏡，位移場，摻雜化合物
發表文章：Displacement field measurement of metal sub-lattice in inversion domains of indium-doped zinc oxide
發表期刊：Ultramicroscopy
使用儀器型號：Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀
研究人員借助 Gentle Mill 離子精修儀制備了超薄、清潔的非均相氧化物樣品，并對其金屬內亞晶格位移場進行了測量。該研究中，Gentle Mill 利用低電壓離子束（1 keV Ar+離子）對樣品進行雙面精修，確保了樣品的超薄厚度和高質量，為后續的高分辨率成像和分析提供了有力支持。
04. 使用低電壓進行原子尺度的元素 mapping
關鍵詞：EELS，高分辨 mapping，STEM，多層切片計算
發表文章：Elemental mapping at the atomic scale using low accelerating voltages
發表期刊：Ultramicroscopy
使用儀器型號：Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀
研究人員使用 Gentle Mill 離子精修儀制備了超薄、清潔的 SrTiO3（STO）樣品，并通過 EELS 技術對其進行了原子尺度的元素 mapping 分析。Gentle Mill 在該研究中用于對樣品進行最終的離子束拋光，確保了樣品的高質量和分析結果的精確性。
05. 碳含量對奧氏體/ε-馬氏體雙相 Fe-Mn-C 鋼的微結構、馬氏體轉變和力學性能的影響
關鍵詞：高錳鋼，變形誘導的馬氏體，TEM，EBSD
發表文章：Influence of carbon content on the microstructure,martensitic transformation and mechanical properties in austenite/e-martensite dual-phase Fe–Mn–C steels
發表期刊：Acta Materialia
使用儀器型號：Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀
研究人員借助 Gentle Mill 離子精修儀清除了鋼鐵FIB 樣品上的 Ga 離子污染，從而對其結構、相變和性能進行了準確、可靠的研究。該研究中，Gentle Mill 利用低能量離子束（0.5 kV）對樣品表面進行了精修，有效去除了 FIB 加工過程中產生的 Ga 離子污染，為后續的高分辨率成像和分析提供了清潔的樣品。
06. 使用 STEM 進行皮米精度的局域晶體結構分析
關鍵詞：STEM，晶體結構分析，環形暗場像
發表文章：Local crystal structure analysis with several picometer precision using scanning transmission electron microscopy
發表期刊：Ultramicroscopy
使用儀器型號：Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀
研究人員利用 Gentle Mill 離子精修儀制備了超薄的 TmFeO3 樣品，并對其局域晶體結構進行了皮米精度的分析。Gentle Mill 在該研究中用于對樣品進行機械減薄和低電壓離子束精修，確保了樣品的超薄厚度和高質量，為后續的高分辨率 STEM 分析提供了有力支持。
07. Sm 摻雜 BiFeO3 鐵電外延薄膜中反極性團簇的納米級結構和化學性質
關鍵詞：納米結構，反極性團簇，鐵電薄膜
發表文章：Nanoscale Structural and Chemical Properties of Antipolar Clusters in Sm-Doped BiFeO3 Ferroelectric Epitaxial Thin Films
發表期刊：CHEMISTRY OFMATERIALS
使用儀器型號：Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀
研究人員借助 Gentle Mill 離子精修儀制備了清潔的摻雜 BiFeO3 外延薄膜，從而研究了其納米級結構和化學性質。Gentle Mill 在該研究中用于對樣品進行雙面精修，確保了樣品的清潔度和高質量，為后續的高分辨率 STEM 分析提供了有力支持。
08. 為透射電鏡開發的單色器的實踐工作
關鍵詞：單色器，EELS，空間分辨率
發表文章：Practical aspects of monochromators developed for transmission electron microscopy
發表期刊：Microscopy
使用儀器型號：Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀
借助 Gentle Mill 離子精修儀，研究人員可以制備清潔的 STO 樣品，從而檢驗透射電鏡單色器的實際效果。
09. 探索實空間中原子內部電荷密度分布
關鍵詞：球差矯正STEM，DPC，電場像，GaN
發表文章：Probing the Internal Atomic Charge Density Distributions in Real Space
發表期刊：ACS Nano
使用儀器型號：Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀
研究人員利用 Gentle Mill 離子精修儀制備了超薄、清潔的 GaN 樣品，并探索了其內部的電荷密度分布。Gentle Mill 在該研究中用于對樣品進行離子束精修，確保了樣品的高質量和分析結果的可靠性。
10. 平衡態 Ni–Al2O3 界面處固-固界面重構
關鍵詞：界面能，界面結構，TEM，重構
發表文章：Solid–solid interface reconstruction at equilibrated Ni–Al2O3 interfaces
發表期刊：Acta Materialia
使用儀器型號：Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀
科學家們借助 Gentle Mill 離子精修儀制備了超薄、清潔的 Ni–Al2O樣品，并研究了其固-固界面的重構行為。Gentle Mill 在該研究中用于對樣品進行低電壓離子拋光，確保了樣品的高質量和分析結果的可靠性。
11. 關聯 APT 和 STEM 研究揭示了含 Al 和 Gd 的 Mg 合金中 LPSO 相的生長序列
關鍵詞：APT，關聯成像，Mg合金，長程堆疊有序（LPSO）
發表文章：Correlative atom probe tomography and scanning transmission electron microscopy reveal growth sequence of LPSO phase in Mg alloy containing Al and Gd
發表期刊：Scientific Reports
使用儀器型號：Technoorg Linda Gentle Mill 離子精修儀
研究人員利用 Gentle Mill 離子精修儀去除 TEM/STEM 觀察時的污染物，制備了清潔的 Mg 合金針尖，并進行了關聯的 APT 研究，從而揭示了其生長序列。Gentle Mill 在該研究中用于對樣品進行低能量離子束精修，確保了樣品的清潔度和高質量，為后續的高分辨率成像和分析提供了有力支持。
Technoorg Linda 公司生產的 Gentle Mill 離子精修儀憑借其低能量離子束技術和高效精修能力，已成為材料科學領域的工具。通過上述 11 篇文獻的精選，我們可以看到 Gentle Mill 在多種材料的微觀結構和性能研究中發揮了重要作用，為科學家們提供了高質量、清潔的樣品，助力他們在原子級分辨率下實現精確的成像和分析。無論是在金屬氧化物、半導體材料還是合金體系中，Gentle Mill 都展現出了性能和可靠性，為材料科學的前沿研究提供了有力支持。
Gentle Mill 離子精修儀--用于FIB樣品處理
Gentle Mill 離子精修儀產品采用氬離子束，專為最終拋光、精修和改善 FIB 處理后的樣品而設計。Gentle Mill 型號非常適合要求樣品無加工痕跡、表面幾乎沒有任何損壞的 XTEM、HRTEM 或 STEM 的用戶。其配備了專業的低能氬離子槍，離子束能量低至 100eV，可把非晶層厚度精修到 1nm 以下，獲得樣品的真實信息。
傳真：
地址：上海市閔行區虹橋鎮申濱路 88 號上海虹橋麗寶廣場 T5，705 室
版權所有 © 2018 復納科學儀器（上海）有限公司 備案號：滬ICP備12015467號-2 管理登陸 技術支持：化工儀器網 GoogleSitemap
