Technoorg Linda GIB TEM樣品制備 精修離子束系統
用于掃描電鏡 / 雙束電鏡的氬離子束方案
Technoorg Linda GIB TEM樣品制備 精修離子束系統的低能氬離子槍（GIB） 適用于表面減薄、其他表面處理后的后處理、清潔以及去除無定形和氧 化物表面層。 當低能氬離子槍集成到掃描電鏡中時 ，其作用尤為明顯。有了集成離子槍 ，就可以在研究之前對樣品 進行精修。 實現高質量樣品的另一個重要應用是在雙束 SEM / FIB 系統中進行 FIB 樣品制備后，對 TEM 樣品進行最 終拋光和溫和的表面清潔。
可與掃描電鏡集成
帶波紋管的傳輸系統可通過連接管安裝到掃描電鏡上。連 接管輸出法蘭的尺寸與相應的 SEM 端口尺寸相匹配。通 過線性傳輸系統提供的離子源流動性，可實現理想的工作 距離（15-30 mm）。
低能量氬離子槍
低能量離子槍的直徑和長度均為 50mm。氬離子束的能 量范圍：100eV - 2kV。 2kV 時的最大束流為 70µA。離 子束為寬束，半最大全寬（FWHM）為 2mm。
半管支架
低能量離子槍安裝在半管支架中。
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